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> FIB/SEM雙束電鏡
FEI FIB雙束掃描電子顯微鏡Helios 5 DualBeam
用于 TEM 和 STEM 成像或原子探針斷層掃描的樣品制備。產(chǎn)品可實現(xiàn)先進的自動化操作,簡單易用,并且能夠進行高質(zhì)量的亞表面 3D 表征。
型號:
Helios 5 DualBeam
發(fā)布時間:2022-12-04
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